En la actualidad el sector industrial requiere de tecnicas que permitan el analisis de sus productos sin contacto, o en la linea de produccion, en muchos de los casos la calidad de objetos transparentes como acrilicos, vidrios, lentes, espejos entre otros, debe ser medida con una precision del orden de micrometros es decir, que no tengan desviaciones o errores mayores de la longitud de onda; en otros sectores algunas muestras organicas microscopicas tambien deben ser cuantificadas, aun sin contar con microscopios de potencia, por lo que un problema de interes es medir las deformaciones de estas superficies u objetos respecto a una referencia o forma ideal. En este libro se presenta un sistema interferometrico para analizar estructuras transparentes y que son de interes para el sector industrial; para este fin se implemento una tecnica de corrimiento de fase por polarizacion para obtener la informacion de las deformaciones ocasionadas por el objeto transparente.Se presentan los resultados obtenidos con microestructuras transparentes. Esta investigacion forma parte de la Iniciativa de Creacion de la Primera Ingenieria en Optica y Fotonica de Iberoamerica."
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